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平成20年度第2回粉体工学会粒子径計測研究会開催のお知らせ
ブラウン拡散を利用したナノ粒子の計測法等が開発されていますが,計測の信頼性を確保するうえで標準粒子による校正が必要になります.標準粒子の粒子径は最終的に画像法により確認されることから,粒子径計測の精度は画像処理法によっていると言っても過言ではありません. また,多くの粒子は非球形であることから,その幾何学的形状の測定には画像法が不可欠です.最近,粒子形状の記述子に関するISO 9276-6が制定されるとともに,測定法に関する規格化もスタートしています. そこで,本研究会では粒子径計測の基本である画像処理法の実際について,画像粒子計測技術に関わっている方々から以下の話題提供を頂き,ナノ粒子計測や標準化における課題を探ります.奮ってご参加下さい. ■日時:2008年12月17日(水),13:30〜16:30 ■会場:産業技術総合研究所臨海副都心センター別館会議室3(別館11階11208室) (〒135-0064 東京都江東区青海2-41-6) ゆりかもめ「テレコムセンター」下車,徒歩5分.案内は下記URL参照. http://www.aist.go.jp/aist_j/guidemap/tokyo_waterfront/tokyo_waterfront_map_main.html 【講演プログラム】 13:35-14:20 画像処理法による粒子計測の実際1:撮像画像から如何に特徴抽出し,粒径,形状を得るか(画像処理法の概論) 「シスメックスFPIAの紹介と測定事例」 シスメックス(株)・桜井智宏 14:20-15:05 画像処理法による粒子計測の実際2:如何に良質の粒子画像を得るか(運動粒子の撮像と粒径評価) 「セイシン・PITA-1の紹介と測定事例」 (株)セイシン企業・阿川直樹 15:15-16:10「画像処理法における粒子計測の課題(仮)」:いろいろな条件の画像から得た粒径分布を統計的に判断するには (株)ニレコ・田辺寛一郎 16:10-16:30「画像計測における誤差」 産業技術総合研究所・遠藤茂寿 ■参加費:無料 ■参加申込:e-mail又はfaxで,遠藤茂寿(産業技術総合研究所)までご連絡下さい. e-mail: s-endoh@aist.go.jp fax: 029-861-8457 ■申込締切:12月12日(金)
by powder-group
| 2008-12-17 13:30
| 粒子径計測研究会
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